LIC 4100 V 系列采用非接觸式光學(xué)掃描原理。讀數(shù)頭內(nèi)的發(fā)光二極管(LED)發(fā)出光束,經(jīng)由光學(xué)透鏡照射到玻璃尺上的精細(xì)刻線編碼尺身。玻璃光柵尺上刻有METALLUR工藝制作的金屬鍍層光柵和絕對(duì)編碼圖案,讀數(shù)頭的光電探測(cè)器接收由光柵衍射/干涉形成的光強(qiáng)信號(hào) 。通過(guò)對(duì)絕對(duì)碼道的讀取,系統(tǒng)可在上電時(shí)直接獲得當(dāng)前位置的編碼值,無(wú)需移動(dòng)進(jìn)行參考點(diǎn)尋找;同時(shí)增量細(xì)分信號(hào)經(jīng)內(nèi)置插值電路處理,實(shí)現(xiàn)高達(dá)納米級(jí)的定位分辨率 。LIC 4100 V 的讀數(shù)頭內(nèi)置了專用ASIC信號(hào)處理芯片,可動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)LED光源亮度。當(dāng)信號(hào)幅度因輕微灰塵污染而減弱時(shí),ASIC會(huì)自動(dòng)提高LED驅(qū)動(dòng)電流以維持信號(hào)強(qiáng)度,從而在不增加噪聲的情況下保持穩(wěn)定的輸出波形 。由于測(cè)量過(guò)程無(wú)任何機(jī)械接觸,光柵尺與讀數(shù)頭不存在磨損,也不會(huì)產(chǎn)生顆粒雜質(zhì),非常適合嚴(yán)格潔凈要求的真空應(yīng)用環(huán)境。
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